產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索：
美國EDAX能譜儀
EP6美國 Cascade Microtech EP6探針臺
TEM氮化硅薄膜窗口
NTEGRAPrima俄羅斯產(chǎn)全功能掃描探針原子力顯微鏡
主動隔振臺ARISTT
Zeta-20三維光學(xué)輪廓儀
石英/硅/聚合物模板高分辨率納米壓印模板（Mold for nanoimprint lithography）
iNano高精度臺式納米壓痕儀
PLD/Laser-MBE脈沖激光沉積/分子束外延聯(lián)用系統(tǒng)
P170全自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
納米團(tuán)簇束流沉積系統(tǒng)
P7晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
Profilm 3D經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀 可測樣
Lumina光學(xué)表面缺陷分析儀
Solver P47俄羅斯產(chǎn)高性價比掃描探針顯微鏡原子力
納米壓印膠
當(dāng)前位置：首頁
產(chǎn)品中心納米壓痕儀
InSEM HT高溫原位納米壓痕儀（高溫）通過在真空環(huán)境中單加熱jian端和樣品來測量高溫下的硬度、模量和硬度。INSEM®HT與掃描電子顯微鏡（SEM）和聚焦離子束（FIB）或立真空室兼容。附帶的InView軟件可以協(xié)助開發(fā)新的實(shí)驗(yàn)。科學(xué)出版物表明，InSEM HT結(jié)果與傳統(tǒng)大型高溫試驗(yàn)數(shù)據(jù)吻合。廣泛的溫度范圍使InSEM HT成為開發(fā)研究材料的一個非常有價值的工具。
更新時間：2024-06-17
產(chǎn)品型號：In-SEM HT
瀏覽量：1712
原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM NanoFlip產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下進(jìn)行各種原位力學(xué)測試；也可以直接在大氣環(huán)境下測試。本產(chǎn)品可進(jìn)行硬度和楊氏模量測試、連續(xù)剛度測試、力學(xué)性能譜圖、納米動態(tài)力學(xué)分析、劃痕和磨損測試、柱壓縮等測試，可同時將SEM圖像與力學(xué)測試數(shù)據(jù)同步。還可以進(jìn)行快速壓痕測量，這是在惰性環(huán)境（如手套箱）中研究非均均相材料的重要手段。
更新時間：2024-06-17產(chǎn)品型號：Nano Flip瀏覽量：1790