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拉伸臺
021-64283335
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晶圓探針式輪廓儀作為半導體工業(yè)中重要的測試和測量工具
Profilm 3D光學輪廓儀簡介
臺式納米壓痕儀是一種先進的材料表面力學性能測試儀器
高精度輪廓儀是一種用于測量和繪制物體輪廓的裝置
保證最終元器件的性能指標是光學元件加工領域的關鍵問題之一
在使用臺式納米壓痕儀進行測試時可能會遇到的問題
為了滿足現(xiàn)代材料研究的挑戰(zhàn),Swift開發(fā)了一系列*可定制的原位拉伸試樣臺。這些拉伸試樣臺適合多種顯微觀測系統(tǒng),比如掃描電鏡、透射電鏡、光學顯微鏡、共聚焦顯微鏡等。支持EBSD,樣品加熱和冷卻,可實現(xiàn)原位“拉伸—剪切”、“壓縮—剪切”、“單軸拉伸/壓縮”、“純剪切”及疲勞力學測試等多重測試模式,實現(xiàn)原位復合載荷測試薄膜及細絲力學實驗。
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